Service
クライオ走査電子顕微鏡（分析機能付き）
| メーカー | 分析用集束イオンビーム走査電子顕微鏡：FEI |
|---|---|
| 型番 | 分析用集束イオンビーム走査電子顕微鏡：Scios 2 |
| 仕様 |
|
どんな機器？
試料表面の微細構造を観察できる走査電子顕微鏡（SEM）です。
急速凍結させた試料を冷却したまま観察でき、含水試料や生物試料にも対応しています。
何ができる？
- 試料表面の微細構造観察
- 含水試料・生物試料の観察
（※血液等の感染性試料の測定はお断りしています） - 微小範囲での断面作成・観察（FIB使用時）
- 観察範囲での元素マップの取得（EDX使用時）
測定事例
機器利用料金
依頼試験やオーダーメード試験にてお受けいたします（現在機器利用は行っておりません）。
料金につきましては別途お問い合わせください。